고농도 실리카 나노 슬러리의 조대 입자 검출 및 농도 평가 : Dynamic Image Analysis - iSpect DIA 안녕하세요! 연구 및 분석장비 전문 기업 디에이드입니다! 실리카는 반도체 및 기타 전자 부품의 봉지재 및 페인트의 충전재로써 광범위한 분야에서 사용됩니다. 실리카에 의도치 않게 조대 입자(이물질, 응집체)가 포함되는 경우 전자 부품의 성형성, 절연성, 전기적 특성 저하, 도료의 도막 강도 저하, 불균일 등 불량 원인이 될 수 있습니다. 실리카의 크기를 분석하는 방법으로 레이저 회절법(LD), 동적광산란(DLS), 주사전자현미경(SEM)을 많이 사용하고 있으나 레이저를 이용한 분석은 조대 입자의 개수가 미량일 때는 검출이 되지 않으며, SEM은 관찰 시야가 좁아 측정 시간이 길고 ..